RMS Foundation
Bischmattstrasse 12
2544 Bettlach
Schweiz
Tel. +41 32 644 2000
METHODEN
Rasterelektronenmikroskopie
mit Energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM / EDX)
Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) bieten in Kombination vielfältige Möglichkeiten zur Analyse und Charakterisierung von Materialien. Sie eignen sich hervorragend zur Bestimmung der Topografie und Struktur von Oberflächen und Bruchflächen, dies mit einer Vergrösserung bis zu 300'000×. Ausserdem haben wir die Möglichkeit, Proben bei höheren Drücken zu analysieren, was uns erlaubt, heikle, nichtleitfähige Proben ohne vorherige Beschichtung zu analysieren.
Die EDX-Spektroskopie bietet die Möglichkeit, die REM-Bilder mit einer Bestimmung der elmentaren Zusammensetzung zu kombinieren und somit die chemische Zusammensetzung bildgebend darzustellen. Ein anderes Beispiel ist die Partikelanalytik, in der die Form und die Zusammensetzung jedes einzelnen Partikels bestimmt werden können.
Nach welchen Normen testen wir?
Wenn immer möglich, führen wir unsere Prüfleistungen nach oder in Anlehnung an internationalen Normen durch, z. B.:
- ISO 17853
- ASTM F1877
Gerne finden wir aber auch eine Lösung für Ihre spezifische Fragestellung.
Welche Geräte verwenden wir?
- Zeiss Sigma 300 VP
- UltimMax 40 EDX Detektor
Für welche Materialprüfungen setzen
wir diese Methode ein?
REM / EDX setzen wir unter anderem für folgende Materialprüfungen ein:
Was Sie über diese Methode wissen sollten?
Für welche Proben eignet sich die Methode?
Wir können alle vakuumbeständigen, metallischen und nicht-metallischen Festkörper (z. B. Polymere, Keramiken) und Pulver analysieren.
Die VP-Mode (reduziertes Vakuum) erlaubt die Untersuchung nichtleitender Proben ohne Sputterung resp. Bedampfen.
Was muss man bei den Proben beachten?
- Die maximale Probengrösse (B × T × H): beträgt 100 × 100 × 50 mm, in speziellen Fällen sind auch grössere Proben möglich.
- Bei Pulverproben werden nur wenige Partikel gebraucht.
- Proben sind am besten verpackt in z. B. sauberer Aluminiumfolie oder einem sauberen Gefäss.
Was ist der Messbereich?
Vergrösserungen von 5× bis zu 300’000× sind möglich.
EDX erlaubt die Quantifizierung der meisten Elemente mit einer Nachweisgrenze von ca. 0.4 ‑ 0.5 % für Elemente leichter als Al und 0.2 ‑ 0.3 % für solche, die schwerer sind als Al. Die laterale Auflösung und die Informationstiefe betragen jeweils ca. 1 μm.
Ich möchte gerne dabei sein, wenn Sie meien Proben im REM anschauen. Geht das?
Ja, Sie können gerne während der REM-Untersuchungen anwesend zu sein. Dies erleichtert die Kommunikation und erlaubt ein situatives Reagieren auf die Untersuchungsergebnisse, was die Qualität der Ergebnisse sehr oft positiv beeinflusst.
Ist die Methode akkreditiert?
Ja, REM / EDX-Analysen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.
Wer ist Ihr Ansprechpartner?
Roman Heuberger
Dr. sc. ETH Zürich, Dipl. Werkstoffingenieur ETH
Leiter Materialprüfung und Beratung
+41 32 644 2022
Dr. sc. ETH Zürich, Dipl. Werkstoffingenieur ETH
Leiter Materialprüfung und Beratung
+41 32 644 2022