Das REM der RMS Foundation bietet als besondere Möglichkeit die dreidimensionale Erfassung und Darstellung von Oberflächen sowie daraus die Berechnung der Rauheitswerte (Ra, Rq, Rz usw.). Dieses «räumliche Sehen» wird durch ein kontrolliertes Kippen der Probe um ein paar Winkelgrad erzeugt, wobei un …

Bei der Rasterelektronenmikroskopie wird die Oberfläche einer Probe im Vakuum mit einem fokussierten Elektronenstrahl abgerastert. Dabei werden Sekundärelektronen (SE) und Rückstreuelektronen (BSE) auf der Oberfläche emittiert und mit Detektoren erfasst. Flächen, die zum Detektor geneigt sind, ersch …

Mechanische Prüfungen in der RMS Die RMS verfügt über eine breite Erfahrung in statischen und quasistatischen Prüfungen unter Zug-, Druck-, Biege- und Torsionsbeanspruchung sowie kombinierten Belastungen. Dabei kommen zwei Zug-/Druck-Prüfmaschinen von Zwick mit einem Lastbereich von 2 N bis 100 kN u …

Bei der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, kurz XPS (engl: X-ray photoelectron spectroscopy), wird der photoelektrische Effekt ausgenutzt (Abbildung 1): Elektronen werden mit Röntgenstrahlen so stark angeregt, dass sie ihr Atom und die Probe verlassen. Die Energie der freigesetzten Elektronen wir …

Die RMS verfügt über eine Reihe von Einrichtungen zur ein- und mehrachsigen dynamischen Prüfung von Materialproben, Komponenten und Bauteilen unter verschiedenartiger Beanspruchung, insbesondere mit Variationsmöglichkeiten der Belastungsform und/oder der Frequenz. Wir haben eine langjährige Erfahrun …