Optisches Funken-Emissionsspektrometer (OES)
Das OES bietet die Möglichkeit einer schnellen chemischen Analyse von metallischen Werkstoffen, inklusive der Elemente C, S, N und O. Es erlaubt die eindeutige Identifizierung von kohlenstofflegierten Stählen. Die Analyse ist nicht ganz zerstörungsfrei, da ein Lichtbogen unter Argonschutzgas erzeugt wird, der Material verdampft und einen etwa 10 µm tiefen Brandfleck mit einem Durchmesser von 5 mm hinterlässt.
Energiedispersive Röntgenfluoreszenz (ED-XRF)
Mit dem ED-XRF-Gerät können Messungen an metallischen Werkstoffen sowohl im Labor als auch beim Kunden vor Ort durchgeführt werden. Die Analyse ist zerstörungsfrei, was bedeutet, dass die Werkstoffoberfläche nicht beschädigt wird.
Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenz (WD-XRF)
Das WD-XRF-Gerät erlaubt eine präzise, zerstörungsfreie Analyse von metallischen und nicht-metallischen Werkstoffen. Sämtliche Materialien wie Metalle, Keramiken, Glas oder Zemente in fester und Pulverform können analysiert werden. Die hohe Sensitivität und tiefen Nachweisgrenzen ermöglichen die Analyse von Schwermetallen wie Blei, Cadmium und Quecksilber nach den RoHS-Richtlinien.
Anwendungsbereiche:
- OES: Quantitative Elementanalyse inklusive der Elemente C, S, O und N an metallischen Werkstoffen
- ED-XRF: Stationäre und mobile quantitative Elementanalyse an metallischen Werkstoffen
- WD-XRF: Qualitative und quantitative Elementanalyse metallischer und nicht-metallischer Werkstoffe
Geräte:
- OES Bruker Q4 Tasman
- ED-XRF Bruker Handheld S1 Titan LE
- WD-XRF Bruker S8 Tiger
