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IL-28: Prüfung der Technischen Sauberkeit nach VDA 19 Teil 1

Geschrieben von RMS Foundation | 04.10.2024

Die RMS Foundation hat ihre Möglichkeiten der Analyse von Partikeln weiter ausgebaut und bietet neu auch die Prüfung der Technischen Sauberkeit nach VDA 19 Teil 1 als Dienstleistung an. Zu diesem Zweck wurden Geräte beschafft, die es ermöglichen, sogenannte Sauberkeitsanalysen normgerecht durchzuführen. Der Gerätepark wurde unter anderem mit einem Extraktionskabinett der Firma Hydac sowie einem Filteranalysesystem der Firma Jomesa erweitert.

Abbildung 1: Jomesa Filteranalysesystem HFD4 (links), Hydac Extraktionskabinett CTU1040.

Im Extraktionskabinett werden die Partikel unter definierten Bedingungen von dem zu untersuchenden Bauteil abgewaschen und anschliessend auf einem Analysefilter festgehalten.
Das Filteranalysesystem dient dazu, die auf dem Filter befindlichen Partikel automatisch auszuzählen, zu vermessen und nach ihrer Art (metallisch, nichtmetallisch, Fasern) zu typisieren. 

Abbildung 2: Beispiele von Partikeln auf einem 5 µm Siebgewebefilter. Metallischer Partikel (links), nichtmetallischer Partikel (rechts) und Faser (oben).

Nach Bedarf kann die Partikelfracht mit Hilfe einer Analysenwaage zusätzlich gravimetrisch bestimmt werden. Um Querkontaminationen zu vermeiden, werden die Sauberkeitsanalysen in einem Reinraum ISO 14644-1, Klasse 7, durchgeführt. Optional besteht die Möglichkeit, ausgewählte Partikel mit bereits bestehenden Analyseeinrichtungen wie REM/EDX oder FT-IR auf ihre Zusammensetzung zu überprüfen und somit möglicherweise auch deren genaue Herkunft zu bestimmen. Nicht mehr nur in der Automobilindustrie ist die Technische Sauberkeit mittlerweile zu einer festen Qualitätsgrösse im Kunden-Lieferanten-Verhältnis geworden.

Wie sauber sind Ihre Bauteile?

Geräte: 

•    Extraktionskabinett Hydac CTU 1040
•    Ultraschallbad Bandelin Sonorex Digiplus DL512H
•    Vakuum-Filtrationseinheit Sartorius
•    Analysenwaage Mettler XPE 2015, 0,01 mg
•    Filteranalysesystem Jomesa HFD4
•    Rasterelektronenmikroskop Zeiss EVO MA 25 mit EDX-Analyse
•    FT-IR Mikroskop Bruker Lumos

Analysemöglichkeiten:

•    Prüfung der Technischen Sauberkeit nach VDA 19 Teil 1 oder nach kundenspezifischen Werksnormen
•    Weiterführende Analysen wie REM-EDX und FT-IR